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“磁環(huán)表面缺陷提取方法”等3項(xiàng)專利權(quán)擬轉(zhuǎn)讓,現(xiàn)將相關(guān)信息予以公示,公示期自 * 日至 * 日。
專利 * :
* 、成果名稱:磁環(huán)表面缺陷提取方法(專利號:ZL *** .1)
* 、內(nèi)容摘要:
本發(fā)明公開了 * 種磁環(huán)表面缺陷提取方法,包括如下步驟:利用0TSU分割磁環(huán)圖像S(X,Y),得到磁環(huán) * 值圖像B(X,Y),將B(X,Y)和S(X,Y)進(jìn)行與運(yùn)算,得到屏蔽背景圖像F(X,Y);利用Canny算法提取磁環(huán)圖像F(X,Y)的邊緣檢測圖像Q(X,Y);將Q(X,Y)轉(zhuǎn)換為數(shù)字形態(tài)學(xué)運(yùn)算圖像Qx(X,Y);對Qx(X,Y)內(nèi)部 (略) 填充,得到掩模圖像Qm(X,Y);將Qm(X,Y)和Qx(X,Y)進(jìn)行異或運(yùn)算,得到缺陷連通域圖像Q′(X,Y)。 (略) 效率高和準(zhǔn)確率高,穩(wěn)定性和魯棒性強(qiáng),能夠識別常見的缺陷的具有特點(diǎn)。
* 、轉(zhuǎn)化方式:專利權(quán)轉(zhuǎn)讓
* 、擬交易價格: * 0元人民幣
* 、價格確定方式:協(xié)議定價
專利 * :
* 、成果名稱:電腦液晶屏導(dǎo)光板留白視覺檢測裝置(專利號:ZL *** .4)
* 、內(nèi)容摘要:
本實(shí)用新型提供 * 種電腦液晶屏導(dǎo)光板留白視覺檢測裝置,包括機(jī)架; (略) 移動支架和固定底座, (略) 的設(shè)置有導(dǎo)軌,導(dǎo)軌上滑動設(shè)置有滑塊;上部移動支架設(shè)置在滑塊上,上部 (略) 設(shè)有導(dǎo)光板輸送機(jī)構(gòu),導(dǎo)光板輸送機(jī)構(gòu)包括 * 個主動軸、 * 個從動軸、 * 對同步帶輪、兩個傳送帶和 * 個同步帶; * 個主動軸和 * 個從動軸依次設(shè)置,其中兩根從動軸通過 * 個傳送帶連接后作為前端傳送帶,另外 * 根從動軸和 * 根主動軸通過另 * 個傳送帶連接后作為后端傳送帶;本實(shí)用新型可實(shí)現(xiàn)電腦液晶導(dǎo)光板留白自動檢測,機(jī)械結(jié)構(gòu)簡單,性能穩(wěn)定,使用壽命長??纱嫒斯?(略) ,提高檢測效率與檢測準(zhǔn)確率,降低生產(chǎn)成本。
* 、轉(zhuǎn)化方式:專利權(quán)轉(zhuǎn)讓
* 、擬交易價格: * 0元人民幣
* 、價格確定方式:協(xié)議定價
專利 * :
* 、成果名稱:小磁瓦微缺陷可視化檢測裝置(專利號:ZL *** .4)
* 、內(nèi)容摘要:
本實(shí)用新型提供 * 種小磁瓦微缺陷可視化檢測裝置:包括玻璃圓盤、正面檢測工位、上面檢測工位、反面監(jiān)測工位和電磁鐵剔除裝置,正面檢測工位、上面檢測工位、反面監(jiān)測工位和電磁鐵剔除裝置均位于玻璃圓盤正上方,正面檢測工位、上面檢測工位和反面監(jiān)測工位位于玻璃圓盤同 * 回轉(zhuǎn)半徑上,電磁鐵剔除裝置位于玻璃圓盤軸心位置,電磁鐵剔除裝置包括凹槽圓盤、滑軌和電磁鐵,凹槽圓盤位于玻璃圓盤軸心位置; (略) (略) 設(shè)置有環(huán)形的固定槽,滑軌首端通過固定件與固定槽連接,電磁鐵設(shè)置在滑軌尾端。本實(shí)用新型能準(zhǔn)確檢測出有缺陷的小磁瓦,合格品經(jīng)過合格品出料擋板阻擋,順著角度滑下工作臺到出料傳送皮帶上。
* 、轉(zhuǎn)化方式:專利權(quán)轉(zhuǎn)讓
* 、擬交易價格: * 0元人民幣
* 、價格確定方式:協(xié)議定價
如有問題,請于公示期內(nèi)以書面形式反映給科 (略) 。
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