1 | 原子力顯微鏡(AFM) | 1.工作模式:含納米刻蝕、納米操縱、高次諧波成像模式。 2.掃描器指標: X,Y方向的掃描范圍≥ * μm,Z方向≥5μm; 掃描器閉環(huán)噪音:X,Y軸閉環(huán)噪音< * pm; 系統(tǒng)高度噪音(探針接觸樣品表面)< * pm。 3.控制:軟件控制探測激光點位置;軟件控制光電檢測器(PD)自動歸零;軟件自動進針、智能掃描。操作軟件:操作軟件免費升級,操作軟件源代碼開放;A (略) 的信號圖開放。 4.控制器:3個全數字雙頻鎖相放大器。其中2個為工作在 * MHz的雙頻率數字積分鎖相放大器;兩個輸出頻率在 * MHz的雙頻率頻率合成器。頻率范圍從直流到最大 * MHz(9mHz步長); * 個輸出頻率在 * MHz的雙頻率頻率合成器. 頻率范圍從直流到最大 2MHz(2mHz步長);控制精度:控制器應至少有 * 個的 * 位和5個 * 位的數模轉換器DAC,8個 * 位和6個 * 位模數轉換器ADC;數字調Q范圍:2KHz- * MHz;數字化信號交換芯片(各1個): * × * 路、 * × * 路。 5. 導電AFM模式:利用導電針尖實現導電AFM成像和I/V曲線測試。電流測試范圍1pA至 * nA,電流測試精度1pA。此外能夠利用導電的探針夾持器實現PFM測試,能夠在單次掃描同時獲得PFM信號與電流信號,能夠在正常表征樣品PFM疇結構信息的同時獲得樣品導電信息。 6.防震隔音系統(tǒng):不需要外加防震平臺就能實現原子級的分辨率。 7.光學系統(tǒng):AFM操作軟件控制光學系統(tǒng)聚焦; 光學分辨率不低于1微米。 8.光電檢測器帶寬:≥7MHz。 9.成像要求:可以在實驗室對具有平整規(guī)則表面的普通樣品做原子級成像; * . 高性 (略) :i7- * 0 * G, 1T+ * G 2G獨顯(支持雙屏),顯示器1個≥ * 英寸,3K高清,IPS廣視角,窄邊框,低藍光 | * . * | *** | |